ic芯片用途及作用-ic芯片的分類-如何判斷ic芯片的好壞

什么是ic芯片？

本文講ic芯片用途是什么？什么是ic芯片？如何判斷ic芯片的好壞？IC芯片(Integrated Circuit Chip)是將大量的微電子元器件（晶體管、電阻、電容等）形成的集成電路放在一塊塑基上，做成一塊芯片。IC芯片包含晶圓芯片和封裝芯片，相應(yīng) IC 芯片生產(chǎn)線由晶圓生產(chǎn)線和封裝生產(chǎn)線兩部分組成。

ic芯片的分類有哪些

ic芯片的產(chǎn)品分類可以有下面分類方法:

（一）集成電路的種類一般是以內(nèi)含晶體管等電子組件的數(shù)量來分類

SSI(小型集成電路)，晶體管數(shù)10～100個

MSI(中型集成電路)，晶體管數(shù)100～1000個

LSI(大規(guī)模集成電路)，晶體管數(shù)1000～100000

VLSI(超大規(guī)模集成電路)，晶體管數(shù)100000以上。

（二）按功能結(jié)構(gòu)分類

集成電路按其功能、結(jié)構(gòu)的不同，可以分為模擬集成電路和數(shù)字集成電路兩大類。

（三）按制作工藝分類

集成電路按制作工藝可分為半導(dǎo)體集成電路和膜集成電路。膜集成電路又分類厚膜集成電路和薄膜集成電路。

（四）按導(dǎo)電類型不同分類

集成電路按導(dǎo)電類型可分為雙極型集成電路和單極型集成電路。雙極型集成電路的制作工藝復(fù)雜，功耗較大，代表集成電路有TTL、ECL、HTL、LST-TL、STTL等類型。

單極型集成電路的制作工藝簡單，功耗也較低，易于制成大規(guī)模集成電路，代表集成電路有CMOS、NMOS、PMOS等類型。

（五）按ic芯片用途分類

集成電路按用途可分為電視機用集成電路。音響用集成電路、影碟機用集成電路、錄像機用集成電路、電腦(微機)用集成電路、電子琴用集成電路、通信用集成電路、照相機用集成電路、遙控集成電路、語言集成電路、報警器用集成電路及各種專用集成電路。

ic芯片用途及作用

1、ic芯片用途-減少元器件的使用

集成電路的誕生，小規(guī)模的集成電路使內(nèi)容元器件的數(shù)量減少，在零散元器件上有了很大的技術(shù)提高。

2、ic芯片用途-產(chǎn)品性能得到有效提高

將元器件都集合到了一起，不僅減少了外電信號的干擾，也在電路設(shè)計方面有了很大的提升，提高了運行速度。

3、ic芯片用途-更加方便應(yīng)用

一種功能對應(yīng)一種電路，將一種功能集中成一個集成電路，如此一來，在以后應(yīng)用中，要什么功能就可以應(yīng)用相應(yīng)的集成電路，從而大大方便了應(yīng)用。

集成電路是一種微型電子器件或部件。采用一定的工藝，把一個電路中所需的晶體管、二極管、電阻、電容和電感等元件及布線互連一起，制作在一小塊或幾小塊半導(dǎo)體晶片或介質(zhì)基片上，然后封裝在一個管殼內(nèi)，成為具有所需電路功能的微型結(jié)構(gòu)；其中所有元件在結(jié)構(gòu)上已組成一個整體，使電子元件向著微小型化、低功耗和高可靠性方面邁進了一大步。它的英文（integrated circuit）用字母“IC”表示。集成電路技術(shù)包括芯片制造技術(shù)與設(shè)計技術(shù)，主要體現(xiàn)在加工設(shè)備，加工工藝，封裝測試，批量生產(chǎn)及設(shè)計創(chuàng)新的能力上。

如何判斷ic芯片的好壞

一、不在路檢測

這種方法是在ic未焊入電路時進行的，一般情況下可用萬用表測量各引腳對應(yīng)于接地引腳之間的正、反向電阻值，并和完好的ic進行比較。

二、在路檢測

這是一種通過萬用表檢測IC各引腳在路（IC在電路中）直流電阻、對地交直流電壓以及總工作電流的檢測方法。這種方法克服了代換試驗法需要有可代換IC的局限性和拆卸IC的麻煩，是檢測IC最常用和實用的方法。

直流工作電壓測量

這是一種在通電情況下，用萬用表直流電壓擋對直流供電電壓、外圍元件的工作電壓進行測量；檢測IC各引腳對地直流電壓值，并與正常值相比較，進而壓縮故障范圍， 出損壞的元件。測量時要注意以下8點：

(1)萬用表要有足夠大的內(nèi)阻， 少要大于被測電路電阻的10倍以上，以免造成較大的測量誤差。

(2)通常把各電位器旋到中間位置，如果是電視機，信號源要采用標(biāo)準(zhǔn)彩條信號發(fā)生器。

（3）表筆或探頭要采取防滑措施。因任何瞬間短路都容易損壞IC。可采取如下方法防止表筆滑動：取一段自行車用氣門芯套在表筆尖上，并長出表筆尖約0.5mm左右，這既能使表筆尖良好地與被測試點接觸，又能有效防止打滑，即使碰上鄰近點也不會短路。

(4)當(dāng)測得某一引腳電壓與正常值不符時，應(yīng)根據(jù)該引腳電壓對ic正常工作有無重要影響以及其他引腳電壓的相應(yīng)變化進行分析， 能判斷ic的好壞。

(5)ic引腳電壓會受外圍元器件影響。當(dāng)外圍元器件發(fā)生漏電、短路、開路或變值時，或外圍電路連接的是一個阻值可變的電位器，則電位器滑動臂所處的位置不同，都會使引腳電壓發(fā)生變化。

(6)若ic各引腳電壓正常，則一般認(rèn)為ic正常；若ic部分引腳電壓異常，則應(yīng)從偏離正常值最大處入手，檢查外圍元件有無故障，若無故障，則ic很可能損壞。

(7)對于動態(tài)接收裝置，如電視機，在有無信號時,ic各引腳電壓是不同的。如發(fā)現(xiàn)引腳電壓不該變化的反而變化大，該隨信號大小和可調(diào)元件不同位置而變化的反而不變化，就可確定ic損壞。

(8)對于多種工作方式的裝置，如錄像機，在不同工作方式下，ic各引腳電壓也是不同的。

交流工作電壓測量法

為了掌握ic交流信號的變化情況，可以用帶有ｄｂ插孔的萬用表對ic的交流工作電壓進行近似測量。檢測時萬用表置于交流電壓擋，正表筆插入ｄｂ插孔；對于無ｄｂ插孔的萬用表，需要在正表筆串接一只0.1～0.5μｆ隔直電容。該法適用于工作頻率較低的ic，如電視機的視頻放大級、場掃描電路等。由于這些電路的固有頻率不同，波形不同，所以所測的數(shù)據(jù)是近似值，只能供參考。

總電流測量法

該法是通過檢測IC電源進線的總電流，來判IC好壞的一種方法。由于IC內(nèi)部絕大多數(shù)為直接耦合，IC損壞時（如某一個pn結(jié)擊穿或開路）會引起后級飽和與截止，使總電流發(fā)生變化。所以通過測量總電流的方法可以判IC的好壞。也可用測量電源通路中電阻的電壓降，用歐姆定律計算出總電流值。

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